フィルター
フィルター
集積回路 ic
| 画像 | 部分# | 記述 | メーカー | ストック | RFQ | |
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SY100H842ZH |
IC CLKの緩衝1:4 160MHZ 16SOIC
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MC10E111FN |
IC CLKの緩衝1:9 800MHZ 28PLCC
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MC100EP11DT |
ICの時計の緩衝1:2 3GHZ 8-TSSOP
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PI49FCT32806SE |
IC CLKの緩衝1:5 133MHZ 20SOIC
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SY100H841LZH |
IC CLKの緩衝1:4 160MHZ 16SOIC
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MC10EP11DT |
ICの時計の緩衝1:2 3GHZ 8-TSSOP
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PI49FCT3803L |
IC CLK バッファ 1:7 156MHZ 16TSSOP
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PI49FCT32803LE |
IC CLK バッファー 1:7 133MHZ 16TSSOP
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SY100H641JZ |
IC CLK バッファー 1:9 135MHZ 28PLCC
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STLVD111BFR |
IC CLKの緩衝1:10 900MHZ 32TQFP
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PI49FCT2805BTQE |
IC CLKの緩衝1:5 66MHZ 20QSOP
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DS0026CMM |
IC CLKの緩衝2:2 10MHZ 8VSSOP
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SY100E111LEJY |
IC CLKの緩衝1:9 28PLCC
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PI49FCT3807DQ |
IC CLKの緩衝1:10 156MHZ 20QSOP
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PI90LVB16L |
IC CLK バッファー 1:6 160MHZ 24TSSOP
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SY100E111AJY |
IC CLKの緩衝1:9 28PLCC
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PI49FCT20803LE |
IC CLKの緩衝1:7 150MHZ 16TSSOP
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CY7B991V-2JC |
IC CLKの緩衝8:8 80MHZ 32PLCC
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PI49FCT3807CQ |
IC CLKの緩衝1:10 100MHZ 20QSOP
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PI49FCT3807DSE |
IC CLKの緩衝1:10 156MHZ 20SOIC
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MAX9325EQI+ |
IC CLK バッファー 2:8 700MHZ 28PLCC
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IDT74FCT3807ASO |
IC CLK バッファー 1:10 100MHZ 20SOIC
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PI49FCT806ATQ |
IC CLKの緩衝1:5 66MHZ 20QSOP
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PI49FCT3805AQE |
IC CLKの緩衝1:5 66MHZ 20QSOP
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NB7L14MMN |
IC CLK バッファ 1:4 8GHZ 16QFN
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PI49FCT3807CS |
IC CLK バッファー 1:10 100MHZ 20SOIC
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PI49FCT3807AS |
IC CLK バッファー 1:10 66MHZ 20SOIC
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SY89854UMY |
IC CLKの緩衝1:4 3.5GHZ 16MLF
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NB7L11MMN |
IC CLK BUFFER 1:2 8GHz 16QFN
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PI49FCT806ATS |
IC CLKの緩衝1:5 66MHZ 20SOIC
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MAX9320ESA |
時計とデータドライバ
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SI5335A-B05940-GM |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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PL500-37TC-R |
IC VCXO SOT23-6
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CY25404ZXI-003 |
ICクロックジェネレーター
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CY2292SXC-492 |
ICクロックジェネレーター16SOIC
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SI5335A-B05774-GM |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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SI5335A-B05540-GM |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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試験対象は,試験対象は, |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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CS2000P-CZZR |
IC FRACT N SYNTH 10MSOP 試聴する
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SI5335A-B06194-GM |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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試験対象は,試験対象は, |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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SI5335C-B04285-GM |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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SI5335C-B06011-GM |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である. |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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SI5335A-B04842-GM |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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SI5335A-B06124-GM |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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試験対象は,試験対象は, |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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SI5335A-B05618-GM |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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試験対象は,試験対象は, |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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試験対象は,試験対象は, |
IC 4OUT 任意の周波数 <350MHZ 24QFN
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