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集積回路 ic

画像部分#記述メーカーストックRFQ
SI51218-A07787-GM

SI51218-A07787-GM

3出力プログラマブルクロック生成
SI5350C-B06463-GTR

SI5350C-B06463-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI51211-A08487-GM

SI51211-A08487-GM

3-OUTPUTプログラム可能な時計の遺伝子
SI5350C-B05205​​-GT

SI5350C-B05205​​-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI51218-A05906-GM

SI51218-A05906-GM

3出力プログラマブルクロック生成
SI5350B06020GT

SI5350B06020GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5355A-B05884-GMR

SI5355A-B05884-GMR

任意の周波数、任意の出力、8 アウト
SI5350C-B04731-GT

SI5350C-B04731-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B05109-GT

SI5350C-B05109-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI51211-A08088-GM

SI51211-A08088-GM

3-OUTPUTプログラム可能な時計の遺伝子
SI5350C-B05109-GTR

SI5350C-B05109-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B04231-GT

SI5350C-B04231-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B04473-GT

SI5350C-B04473-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5355A-B05455-GMR

SI5355A-B05455-GMR

任意の周波数、任意の出力、8 アウト
試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B06463-GT

SI5350C-B06463-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03478-GT

SI5350C-B03478-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03328-GT

SI5350C-B03328-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03344-GT

SI5350C-B03344-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B05205​​-GTR

SI5350C-B05205​​-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
標識を表示する

標識を表示する

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03304-GT

SI5350C-B03304-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03326-GT

SI5350C-B03326-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B04231-GTR

SI5350C-B04231-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03275-GT

SI5350C-B03275-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03196-GT

SI5350C-B03196-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03053-GTR

SI5350C-B03053-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03478-GTR

SI5350C-B03478-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03053-GT

SI5350C-B03053-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03054-GT

SI5350C-B03054-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03052-GT

SI5350C-B03052-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B02620-GTR

SI5350C-B02620-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B02620-GT

SI5350C-B02620-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B02559-GTR

SI5350C-B02559-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03326-GTR

SI5350C-B03326-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B02870-GT

SI5350C-B02870-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B02559-GT

SI5350C-B02559-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B02390-GTR

SI5350C-B02390-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B02390-GT

SI5350C-B02390-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象は,試験対象である.

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B02569-GT

SI5350C-B02569-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B03054-GTR

SI5350C-B03054-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B02361-GT

SI5350C-B02361-GT

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
SI5350C-B02361-GTR

SI5350C-B02361-GTR

IC 任意の周波数 任意の出力 REF C 10MSOP
490 491 492 493 494